如果您对该产品感兴趣的话,可以
产品名称:
半导体元件自动化测试系统
产品型号:
IST 8900
产品展商:
艾仕欧
产品文档:
无相关文档
简单介绍
IST 8900半导体元件自动化测试系统真正一台完整而具有**“性价比”的半导体元件自动化测试系统，能测试从毫瓦(mW)到千瓦(kW)级全功率系统的多种半导体元件！
半导体元件自动化测试系统
的详细介绍
| 泄漏电流测量档位 Leakage Current Measurement Range |
测试参数
Parameter |
电流档位
Current Range |
分辨率
Resolution |
精度
Accuracy |
测量条件
Test Condition |
Iceo/s/v、Icbo、
Iebo、Idss/v、
Igsr/f、Idrm、
Irrm、Igko、
Igss、Ir、
Ic(off) |
0 - 400 nA |
0.1 nA |
± 3% |
0 - 2.5 KV |
| 0 - 4 μA |
1 nA |
± 1% |
0 - 2.5 KV |
| 0 - 40 μA |
10 nA |
± 1% |
0 - 2.5 KV |
| 0 - 400 μA |
0.1 nA |
± 1% |
0 - 2.5 KV |
| 0 - 4 mA |
1 μA |
± 1% |
0 - 2.5 KV |
| 0 - 40 mA |
10 μA |
± 1% |
0 - 2.0 KV |
| 0 - 400 mA |
0.1 mA |
± 1% |
0 - 1 KV |
| 崩溃电压档位 Breakdown Voltage Range |
测试参数
Parameter |
电压文件位
Voltage Range |
分辨率
Resolution |
精度
Accuracy |
测量条件
Test Condition |
| BVceo/s/v、BVcbo、Vebo、BVdss、BVr、BVdrm、BVrrm、BVgss、BVz |
0 - 30 V |
0.05 V |
± 1% |
0 - 5 A |
| 30 - 60 V |
0.05 V |
± 1% |
0 - 2 A |
| 60 - 2500 V |
0.3 V |
± 2% |
0 - 40 mA |
| 导通电流测量档位 On-State Current Range |
测试参数
Parameter |
电流档位
Current Range |
分辨率
Resolution |
精度
Accuracy |
测量条件
Test Condition |
| hFE、Vce(sat)、Vbe(on)、Vbe(sat)、Vds(on)、 Ids、Vds、Rds(on)、Ic(on)、Vf、If、Vtm、± Vo、± Ipk、± Isc、Vbo、Ibo |
0 - 20 mA |
5 μA |
±13% |
0 - 40 V |
| 0 - 200 mA |
50 μA |
± 1% |
0 - 40 V |
| 0 -2 A |
0.5 mA |
± 1% |
0 - 40 V |
| 0 - 25 A |
6 mA |
± 1% |
0 - 30 V |
| 0-50 A |
12mA |
± 1% |
0 - 20 V |
| 触发电流档位 Trigger Current Range |
测试参数
Parameter |
电流档位
Current Range |
分辨率
Resolution |
精度
Accuracy |
测量条件
Test Condition |
| hFE、Vgs(th)、Vbe(on)、Vgs(on)、Vge(th)、Vge(on)、Igt、Vgt、IL、Ih、Ic(on)、Igt 1/2/3/4、Vgt 1/2/3/4 |
0 - 100 μA |
20 nA |
±1% |
0 - 20 V |
| 0 - 1 mA |
0.2 μA |
± 1% |
0 - 20 V |
| 0 -10 mA |
2 μA |
± 1% |
0 - 20 V |
| 0 - 100 mA |
20 μA |
± 1% |
0 - 20 V |
| 0 - 1 A |
0.2 mA |
± 1% |
0 - 20 V |
| 0 - 20 A |
4 mA |
± 1% |
0 - 20 V |
| |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
| 触发电压文件位Trigger Voltage Range |
测试参数
Parameter |
电压文件位
Voltage Range |
分辨率
Resolution |
精度
Accuracy |
| Vbe(on),Vbe(sat),Vge(on), Vgs(on), Vgt |
0 - 20 V |
4 mV |
± 1% |
| 开关时间 Switching Time |
测试参数
Parameter |
电压文件位
Voltage Range |
分辨率
Resolution |
精度
Accuracy |
| ton、toff |
0 - 1095 ns
连续调整 |
5 ns |
± 1% |
| |
|
|
|
|
|
|
| 机身规格 |
| 仪器 |
体积 高x深X宽 |
重量 |
| 主机 |
11.43cm x43.69cm x41.91cm |
7.7 kg |
| M2400A |
31.75cm x44.45cm x53.34cm |
75 kg |
| M4800A |
49.53cm x44.45cm x53.34cm |
120 kg |
| 10kV电压模块 |
12.7cm x 27.94cm x30.48cm |
5.5 kg |
标准配件：
● AC电源线
● 操作手册
● 二极管轴心引脚测试治具
● 测试治具，适用于TO-220、202、237、218、92
● 测试治具，适用于TO-247、247 super
● 测试治具，适用于SMD封装
选购配件：
● 通用测试夹治具(短测试线)
● 通用测试夹治具(长测试线)
● 测试插座转接器，适用于单/双光耦合装置
● 测试治具，适用于TO-3、66、204
● DB-25公头/公头接口控制导线，适用于连接外部模
块机箱
● 超弹性硅胶大功率测试线
● 夹式测试治具，适用于150mm直径圆盘封装
IST 8900半导体元件自动化测试系统真正一台完整而具有**“性价比”的半导体元件自动化测试系统，能测试从毫瓦(mW)到千瓦(kW)级全功率系统的多种半导体元件！
特点：
☆ 可检测12种半导体元件的参数多达135个；
☆ 可单机独立操作，测试范围达2500V及50A；
☆ 具有自我校正及自我测试诊断之功能；
☆ 外接大电流机箱或高压装置，检测范围可扩展至4800A及10KV；
☆ 具有USB接口，可外接PC、打印机、数据记录器；
☆ 测试程序可储存及重复使用；
☆ 错误或损坏的元件，在未进入参数测试前，便可被自动筛除；
☆ 提供全自动好/坏判别或参数上的测量；
☆ 提供Windows PC Curve Tracer特性曲线软件（选购）；
☆ 具有机械手接口，可供大量生产测试；
☆ 任何管脚错误的连接，均可在启动时，**快速地检测到，且自动停止测试动作；
☆ 测试程序的产生，采用填充式的引导方式；
☆ 测试光耦输出端为三极管或交直流可控硅的元件；
☆80μs~300μs脉冲测试间隔，可防止元件过热造成的数据漂移或损毁。
☆ 采用自动校准软件技术，可排除连接插件接触面、电路板上的线路或继电器接点上细微的压降问题，以避免使用昂贵而麻烦的KELVIN插座，保证MOSFET的Rds(on)精度可达±1mΩ (±0.001Ω)。
元件类型
|
漏电流
|
崩溃电压
|
导通参数
|
放大倍率
|
触发参数
|
闩扣参数
|
保持参数
|
开关参数
|
Bipolar
Transistor
|
Iceo、Ices、Icev、Icbo、Iebo
|
BVceo、BVces
BVcev、BVcbo
BVebo
|
Vce(sat)
Vbe(sat)
|
hFE
|
Vbe(on)
|
|
|
ton
toff
|
MOSFET
Transistor
|
Idss、Igsr、Igsf、Idsv
|
BVdss
|
Vds(on)、Ids(on)
Rds(on)、Vsd
|
gFS
|
Vgs(th)
Vgs(on)
|
|
|
ton
toff
|
IGBT
|
Ices、Igsr、Igsf
|
BVces
|
Vce(sat)、
Ic(on)、Vf
|
gFS
|
Vge(th)
Vge(on)
|
|
|
ton
toff
|
TRIAC
|
Idrm、Irrm
|
BVrrm、BVdrm
|
Vtm+、Vtm-
|
|
Iga 1/2/3/4
Vga 1/2/3/4
|
|
Ih+、Ih-
|
|
SCR
|
Idrm、Irrm、Igko
|
BVdrm、BVrrm
BVgko
|
Vtm
|
|
Igt、Vgt
|
IL
|
Ih
|
|
GTO
|
Idrm、Irrm、Igrm
|
|
Vtm
|
|
Igt、Vgt
|
IL
|
Ih
|
|
DIODE
|
Ir
|
BVr
|
Vf、If
|
|
|
|
|
|
Zener Diode
|
Ir
|
BVz、BVr
|
Vf
|
|
|
|
|
|
J-FET
|
Igss
|
BVgss
|
Idss、Rds(on)
Vds(on)
|
gFS
|
|
Vgs(p)
|
Id(p)
|
|
Regulator
|
|
|
+/-Vo、+/-Ipk
+/-Isc
|
|
|
+/-dV
|
+/-0r、+/-Ir
|
|
Optoisolator
|
Irrm、Ir、Iceo
Icbo、Iebo
Ic(off)、Idrm
|
BVceo、BVcbo
BVebo
|
Vf、Ic(on)、
Vce(sat)、Vtm
|
CTR、hFE
|
Igt
|
|
Ih
|
|
VTS
|
Ir
|
BVr
|
Vbo、bo、dVbo
|
|
|
|
|
|
大功率半导体元件的测试
当功率模块老化时，其工作效能必定降低，一个应用在大功率开关上的功率元件，在其使用期限内，如能定期维护测
试，可确保其使用的*佳状态，防止故障发生。
IST 8900半导体元件全自动测试系统，可以仿真元件在真正工作状态下的电流及电压，并测量重要参数的数据，再与
原出厂指标比较，由此来判定元件的好坏或退化的百分比。
导通参数测试如：Vce(sat)、Vds(on)、Rds(on)、Vf及Vtm等，可由选购外部电流模块M2400与M4800，将IST 8900的大功率测试电流扩大至数千安培。
每个电流模块，都具有独立的供电系统，以便在测试时，提供内部电路及电池组充电之用；IST 8900可通过一个DB-25接口，连续控制电流量0~2400A或0~4800A。
可选购外部高压模块，执行关闭状态参数测试如：各项崩溃电压与漏电流测量达10KV。
