集成电路EMC测试系统

依据IEC 61967-4的IC电磁发射测试系统
传导发射测量方法——1Ω/150Ω直接耦合法

集成电路电磁兼容测试标准，目前出版的有集成电路电磁发射测试标准IEC61967和集成电路电磁抗扰度标准IEC62132 。IEC61967标准，用于150kHz到1GHz的集成电路电磁发射测试。
IEC61967-4规定了两种测试方法：1Ω测试法和150Ω测试法。1Ω测试法用来测试接地引脚上的总骚扰电流，150Ω测试法用来测试输出端口的骚扰电压。

全套测试系统，由以下几个部分组成：
1．EMI测试接收机，可选ESL3
标准对频谱仪或接收机的要求：
• 频率范围覆盖150kHz-1GHz
• 峰值检波、带Max值保持功能
• 分辨率带宽的设置如下表：

2．测试电路板
对集成电路的EMC测试，被测IC需要安装在一块印制电路板上，为提高测试的方便性与重复性，标准规定了电路板的规格，标准电路板的大小与TEM小室顶端的开口大小匹配。
GND22-04测试电路板，完全依据集成电路电磁兼容测试要求设计，由下列部件构成：
• 测试板
• GND平面GND22-04
• 连接板CB 0706
• IC适配器
• 控制单元

3．Probe 603电流探头以及Probe 750电压探头
Probe 750：依据IEC 61967-4的电压探头
应用：测量IC引脚的电压，依据IEC 61967-4的150Ω法
主要技术参数：
• 输入阻抗：150 ?
• 频率范围：可达3GHz
• RF输出：50 ?
• 50Ω频率响应

Probe 603： 依据IEC 61967-4的电流探头
应用：测量IC引脚的电流，依据IEC 61967-4的1Ω法
主要技术参数：
• 分流电阻：
Probe 602：0.1欧姆
Probe 603：1欧姆
• 耦合电容：85 µF
• 分流电阻*大功耗：2.5瓦
• RF输入：1nH
• RF输出：50 ?
•不带前置放大器：-6dB
• 频率范围：200Hz－3GHz