简体版
|
繁体版
设为首页
|
加入收藏
|
友情链接
首页
|
公司简介
|
产品目录
|
公司新闻
|
文件下载
|
在线留言
|
联系我们
产品目录
产品目录
联系我们
首页
>>>
产品目录
>>>
电磁屏蔽效能测试
>>> 
屏蔽室法屏蔽效能测试
更详细的产品分类
产品图片
产品名称/型号
产品简单介绍
小窗法屏蔽效能测试箱
HDS-18S
小窗法屏蔽效能测试箱适用于屏蔽织物、金属薄板、非导电材料表面涂层或镀层、金属网、导电膜、导电玻璃、导电橡胶、导电介质板、导电复合材料等平板型材料微波频段屏蔽效能的测量。小窗法屏蔽效能测试箱适用标准:GJB6190-2008;MIL-DTL-83528-C(参考)。
屏蔽效能测试系统
HSJA16
NS800分光色差仪采用了组合LED精密分光的原理,将光 线按一定波长间隔分开,然后采用若干组传感器阵列进行感光分析。NS800分光色差仪的精度更高,对任何颜色都非常敏感,除了准确测量Lab值、dE值之 外,还可以直接显示光谱反射率曲线,可以实现配色功能,也可以**计算出各种色差仪公式的真正参数。
深圳市华瑞高电子技术有限公司
地址:深圳市龙华新区布龙路与龙观路交汇处展润商务大厦702
邮编:518133
电话:13316563358
传真:0755-22142490
粤ICP备13037693号
粤公网安备 44030902000433号