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IC電磁發射測試系統

]資料
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產品名稱: IC電磁發射測試系統
產品型號: 1Ω/150Ω直接耦合法
產品展商: Langer
產品文檔: 無相關文檔


簡單介紹
依據IEC 61967-4的IC電磁發射測試系統-1Ω/150Ω直接耦合法是根據集成電路電磁兼容測試標準,目前出版的有集成電路電磁發射測試標準IEC61967和集成電路電磁抗擾度標準IEC62132 。依據IEC 61967-4的IC電磁發射測試系統-1Ω/150Ω直接耦合法,用于150kHz到1GHz的集成電路電磁發射測試。

IC電磁發射測試系統

的詳細介紹


集成電路EMC測試系統

依據IEC 61967-4的IC電磁發射測試系統
傳導發射測量方法——1Ω/150Ω直接耦合法

集成電路電磁兼容測試標準,目前出版的有集成電路電磁發射測試標準IEC61967和集成電路電磁抗擾度標準IEC62132 。IEC61967標準,用于150kHz到1GHz的集成電路電磁發射測試。
IEC61967-4規定了兩種測試方法:1Ω測試法和150Ω測試法。1Ω測試法用來測試接地引腳上的總騷擾電流,150Ω測試法用來測試輸出端口的騷擾電壓。

全套測試系統,由以下幾個部分組成:
1.EMI測試接收機,可選ESL3
標準對頻譜儀或接收機的要求:
• 頻率范圍覆蓋150kHz-1GHz
• 峰值檢波、帶Max值保持功能
• 分辨率帶寬的設置如下表:

測量儀器
頻段
150kHz30MHz
30MHz1GHz
頻譜分析儀(3dB
10kHz
100kHz
接收機(6dB
9kHz
120kHz

 

2.測試電路板
對集成電路的EMC測試,被測IC需要安裝在一塊印制電路板上,為提高測試的方便性與重復性,標準規定了電路板的規格,標準電路板的大小與TEM小室頂端的開口大小匹配。
GND22-04測試電路板,完全依據集成電路電磁兼容測試要求設計,由下列部件構成:
• 測試板
• GND平面GND22-04
• 連接板CB 0706
• IC適配器
• 控制單元


3.Probe 603電流探頭以及Probe 750電壓探頭
Probe 750:依據IEC 61967-4的電壓探頭
應用:測量IC引腳的電壓,依據IEC 61967-4的150Ω法
主要技術參數:
• 輸入阻抗:150 ?
• 頻率范圍:可達3GHz
• RF輸出:50 ?
• 50Ω頻率響應

Probe 603: 依據IEC 61967-4的電流探頭
應用:測量IC引腳的電流,依據IEC 61967-4的1Ω法
主要技術參數:
• 分流電阻:
Probe 602:0.1歐姆
Probe 603:1歐姆
• 耦合電容:85 µF
• 分流電阻*大功耗:2.5瓦
• RF輸入:1nH
• RF輸出:50 ?
•不帶前置放大器:-6dB
• 頻率范圍:200Hz-3GHz


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